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三菱化學(xué)四探針粉體電阻率測(cè)試儀MCP-PD51的介紹使用
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用于研究開發(fā)、質(zhì)量管理第一線,執(zhí)行粉體之物性管理
與阻抗率計(jì)Loresta-GX(MCP-T700),Hiresta-UX(MCP-HT800)連接,以測(cè)定廣范圍之粉體之低阻抗、高阻抗
樣品的交換、清掃簡(jiǎn)單、可采一觸式著離探頭
各種粉體的形狀,粒徑分布之不同依壓力依存性把握其阻抗率及壓縮容積
測(cè)定及數(shù)據(jù)、備有達(dá)執(zhí)行圖形化之軟件以供選購
原理:
通過使用粉專用探針,可以在任意壓力下測(cè)量導(dǎo)~絕緣的電阻率。 不是模擬一個(gè)粒子,而是模擬加壓成形的粒子的集合狀態(tài),起因于填充特性
可以求出乘積電阻率。
測(cè)定對(duì)象:
碳基粉末…二次電池電極材料/活性炭/焦炭/石墨/炭黑/碳纖維/納米碳等
金屬粉…電池電極材料/銅粉等薄膜材料/導(dǎo)電性漿料等電路基板材料/導(dǎo)電性涂料/壓粉原料等
調(diào)色劑/樹脂/食品用粉類/陶瓷/粉涂料等絕緣性粉粉末粉體
電阻值:
低電阻10-3Ω~107Ω高電阻103Ω~1013Ω
測(cè)量方法:
低電阻四探針方式(電極間隔3mm )高電阻雙環(huán)法
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